全球第一
C-MOS+T 偵測技術
SPECTRO在Arc-Spark OES金屬光譜儀同業，技術一直都在領先位置，近兩年終於完成C-MOS+T偵測技術並開發出
全新SPECTROLAB S 機型，穩定性、準確性、日常維護都有顯著的提升。
| 偵測器 | 新型 : CMOS+T | 早期 : 光電管 (PMT) |
|---|---|---|
| 擴充性 | 只需透過更新軟體，即可新增新基材/元素分析能力，不受波長限制 | 需要長時間關機，才能新增新元素，即使可增加，數量也會因為波長限制 |
| 敏感度/偵測極限 | 偵測極限、靈敏度、穩定性皆可與PMT匹敵，甚至更好，是第一個SPECTROLAB不用PMT即可完成TRS、SSE等技術的機型 | 偵測極限相當低，靈敏度、穩定性高；可用TRS、SSE技術輔助 |
| 穩定性 | 在設計階段，就能使用最佳的分析頻道、參考頻道；能抵抗室溫變化，新增穩定性軟體 | 有時必需使用次好的波長分析，穩定性會受到室溫的變化而波動 |
| 耐用性 | 極度可靠，經業界認證過的半導體技術 | 在使用固定波長的情況下，一個PMT故障就可能癱瘓整個光學系統 |
| 品質一貫性 | 除了優異的再現性和穩定性，因為半導體規律的生產品質，一貫性必較PMT佳 | 因為PMT為一次性的零件，故品質一貫性無法長時間維持 |
完全取代PMT
CMOS偵測器不但能超越CCD的各項性能，獨特的是，它更達成了那些PMT做得到、但CCD做不到的獨特功能，用來鑽研夾雜物分析的單點火花分析(SSE)技術；或是時間解析光譜法(TRS)，這也是為什麼CMOS偵測器是Arc/Spark OES分光儀革新技術的最大原因。
智慧校正 iCAL 2.0
由SPECTRO獨家研發的智慧邏輯校正iCAL 2.0，比第一代iCAL更能抵抗環境變化，相同的是，不論多少種基材，都只需要用一個校正試片即可完成日常校正；相較於傳統再校正程序，平均每天省下30分鐘。
速度更快、維護更簡單
CMOS偵測器相較於先前機型的CCD偵測器，速度更快，以低合金鋼為例，分析時間可縮短至20秒以內
維護頻率更短(分析台清理、過濾系統等)
軟體功能多、易操作
Measurement軟體設計簡約易懂、操作簡易，淺顯易懂的功能圖示按鈕，多項功能集結於同一畫面的方便性，更將進階功能區隔成開發軟體 Method Developement，清楚管理Sample Result Manager軟體，管理大量的歷史數據，不但可在多筆資料中搜尋、篩選，甚至能用多筆資料製作元素含量的管制圖。
